1. ......................
پدیدآورنده: Singh, Narinder
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing - Data processing ، Integrated circuits,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1987
2. Advanced simulation and test methodologies for VLSI design
پدیدآورنده: Russell, Gordon.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
R88
1989
3. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: Singh, Narinder
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing , Expert systems )Computer science( , Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
4. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: Singh, Narinder, 6591-
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
5. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
6. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
7. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
8. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
9. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (آذربایجان شرقی)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
,
7874
,.
S533
,
1987
10. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: Singh, Narinder, 6591-
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1987
11. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
12. An introduction to logic circuit testing /
پدیدآورنده: Parag K. Lala
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Digital electronics-- Testing,Electric fault location,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Logic circuits-- Testing
13. Built-in test for VLSI
پدیدآورنده: / Paul H. Bardell, William H. McAnny, Jacob Savir
کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration - Testing
رده :
TK
7874
.
B374
1987
14. Built-in test for VLSI
پدیدآورنده: / Paul H. Bardell, William H. McAnny, Jacob Savir
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration - Testing
رده :
TK
7874
.
B374
1987
15. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
پدیدآورنده: edited by R.E. Massara
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Design and construction ، Integrated circuits,Very large scale integratation - Testing ، Integrated circuits,Wafer-scale integration - Design and construction ، Integrated circuits,Wafer-scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
D4749
1989
16. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
پدیدآورنده: edited by R.E. Massara
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه حکیم سبزواری (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits,Very large scale integration -- Testing ، Integrated circuits,Wafer-scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits,Wafer-scale integration -- Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
D4749
1989
17. Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production
پدیدآورنده: Jakubowski, Andrzej
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Large scale integration- Testing,، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing
رده :
TK
7874
.
J35
18. Digital circuit testing and testability
پدیدآورنده: Lala, Parag K.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع: Testing ، Integrated circuits - Very large scale integration,Testing ، Digital integrated circuits,، Integrated circuits - Fault tolerance
رده :
TK
7874
.
75
.
L35
1997
19. Digital circuit testing and testability
پدیدآورنده: Lala, Parag K.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,، Digital integrated circuits-- Testing,، Integrated circuits-- Fault tolerance
رده :
TK
7874
.
75
.
L35
1997
20. Digital hardware testing. transistor-level fault modeling and testing
پدیدآورنده: Rajsuman, Rochit., Rochit Rajsuman
کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع: ، Electronic digital computers- Circuits- Testing- Data processing,، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Data processing,، Electric fault location
رده :
TK
7888
.
4
.
R35
